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技術支持

島津MIV-X超聲波光探傷裝置:創新技術無損檢測新時代
更新時間:2024-11-08   點擊次數:187次

 

華高儀器于2024年11月08日9:40發布了文章【島津MIV-X超聲波光探傷裝置:創新技術無損檢測新時代】。作為在儀器設備行業服務了多年的經銷商,華高儀器有著專業的儀器銷售團隊以及售后服務人員,在采購前期能給客戶一套專業完善的采購方案以及及時響應的售后服務。

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在當今工業生產和材料科學領域,無損檢測技術扮演著至關重要的角色。它不僅能夠確保產品的質量和安全,還能大幅減少生產過程中的浪費和成本。島津企業管理(中國)有限公司推出的MIV-X超聲波光探傷裝置,正是這一領域的一項革命性創新。

技術原理與特點

島津MIV-X超聲波光探傷裝置基于島津光學成像技術,將超聲波振子和頻閃觀測器結合,實現了對材料近表面缺陷的無損檢測。這一技術的核心在于,通過激勵試樣表面,并以光學方式檢測表面位移,從而觀測超聲波在表面的傳播情況。只需將超聲波振蕩器簡單放置于樣品上,調整相機位置,短時間內即可顯示超聲波的傳輸情況,并從視頻中輕松識別缺陷。

MIV-X裝置的軟件功能豐富且操作簡單,用戶能夠輕松標記缺陷、測量尺寸,顯著提高了檢測效率和準確性。此外,該裝置還配備了一個可選的光學變焦組件,能夠檢測更小的缺陷,使得傳統超聲檢測難以發現的內部缺陷(深度約1mm)得以可視化。

應用領域與優勢

MIV-X超聲波光探傷裝置在多種材料的研發和生產過程中具有廣泛的應用前景。它可以輕松檢測異種材料接合、粘接面涂裝、噴涂等涂層面的剝離等表面附近的缺陷,這些缺陷往往是由組合不同材料以增加強度和減輕重量而產生的。此外,MIV-X還能彌補傳統超聲波檢測(UT)難以檢測的區域,擅長表面和近表面區域的檢測。

在涉及多種材料的研發過程中,MIV-X裝置的優勢尤為明顯。它能夠無損且簡單地檢查各種復雜結構的材料,提供準確的檢測結果,為材料科學家和工程師提供有力的支持。同時,MIV-X還具備高度的靈活性和可擴展性,能夠適應不同材料和檢測需求的變化。

市場認可與榮譽

島津MIV-X超聲波光探傷裝置自推出以來,便受到了廣泛的關注和認可。在多個展會和會議上,MIV-X都成為了焦點之一。例如,在2023年的BCEIA展會上,MIV-X作為獲獎展品之一,在島津展位上吸引了眾多參觀者的目光。此外,島津企業管理(中國)有限公司的市場部產品專員還在第二屆無損檢測技術進展與應用網絡會議上分享了關于MIV-X的報告,進一步推動了這一新技術的推廣和應用。

結語

島津MIV-X超聲波光探傷裝置以其技術原理、廣泛的應用領域和顯著的優勢,成為了無損檢測領域的一顆璀璨明珠。隨著技術的不斷進步和應用領域的不斷拓展,MIV-X將在未來的工業生產和材料科學中發揮更加重要的作用。我們相信,在島津的不斷努力下,MIV-X將無損檢測技術走向更加美好的明天。

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